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激光测径仪用于测量精密轴类外径尺寸测量
激光扫描测量
激光扫描测径仪系统采用激光器发出的光束通过多面体扫描转镜和扫描光学系统后,形成与光轴平行的连续高速扫描光束,对被置于测量区域的的工件进行高速扫描,并由放在工件对面的光电接收器接收,投射到光电光电接收器上的光线在光束扫描工件时被遮断,所以通过分析光电接受器输出的信号,可获得与工件直径有关系的数据。为保证测量的高精度以及可靠性,光扫描计量系统必须满足以下三点基本要求:
(1)激光束应垂直照射被测物体表面;
(2)光束必须对物体表面做匀速直线扫描运动;
(3)扫描时间必须测的很准确。
而在现实情况下,扫描速度并不是常数,而是随扫描转镜的角位移的变化而变化,这样就会产生原理误差。
综上所述,我们可以看出,使用CCD进行测量的这种方法有它的优点,但同时也有它自己无法克服的缺点。再看利用激光扫描测量直径的方法,虽然会出现如扫描速度达不到均匀而产生的原理误差,但是我们可以利用算法的不同降低这部分误差。

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